光学相干断层扫描知识的技术法规

光学相干断层扫描（OCT）是一种新的成像方法，可产生透明和半透明介质的高分辨率横截面图像。它既用于工业测量技术，例如组件监测，也用于生物医学诊断。专注于工业计量和医疗技术的公司和研究机构也期待各种其他应用领域。他们在VDI / VDE德国测量和自动化技术协会（GMA）的OCT技术委员会中合作，现在已经发布了带有标准化程序描述的指南草案初稿。

汇集来自行业和研究的专业知识，以便共同发布OCT的一套标准化规则，从而为未来OCT的更多应用领域开辟道路 - 这是GMA技术委员会8.19"光学相干断层扫描"的目标。到目前为止，相对较新的测量方法尚未以普遍有效的方式进行描述，各种方法和性能特征尚未标准化。因此，尚未给出不同OCT系统的可比性，并且更大的传播是有限的。这是通过技术委员会的指导工作来改变的："对OCT的知识和信任应该通过一套通用的技术规则来促进。在第一步中，我们现在已经定义了性能参数的术语和测量方法，并描述了典型的工艺变体，"弗劳恩霍夫IPT生产计量部门负责人兼技术委员会主席Niels Knig解释道。

非接触式和高分辨率成像 – 从生物医学到工业

OCT最初用于眼科，是一种基于短相干干涉测量的测量方法，用于断层扫描横截面图像的非接触和高分辨率表示。它的穿透深度为几毫米，分辨率在个位数的千分尺范围内。在医学诊断中，OCT可用于检查术中或体外的有机组织。由于其通用性，OCT还用于工业中的材料和缺陷测试，例如塑料制品。对于光线无法穿透的不透明材料，如金属，OCT用于表面和距离测量。

新的技术委员会关于OCT工作的初步结果现在以指南草案VDI/VDE 5565 Part 1的形式提供。该设计描述了 OCT 过程并指定了这些过程所需的术语。为了尽可能多地接触到整个OCT社区，该草案已经以德语和英语双语发布。该草案可以在2022年7月31日之前通过异议进行评论。一旦异议得到处理，将发布有效的政策。VDI/VDE 5565 关于"信号处理和数据评估"的第 2 部分已经在委员会中进行中。OCT系统的计量表征已列入进一步项目的路线图。